掃描電鏡與能譜分析
發(fā)布時(shí)間: 2023年10月30日 09:01    作者: -    來(lái)源: 科研及設(shè)備管理中心    瀏覽量: 4726

基本情況

主要用于開(kāi)展特種設(shè)備失效分析中的斷口分析。掃描電鏡主要用于生物樣品、納米材料、高分子材料、金屬材料、無(wú)機(jī)或有機(jī)材料等各種固體樣品的高分辨表面及截面形貌成像觀察,能譜儀主要對(duì)樣品所含元素成分進(jìn)行分析。實(shí)驗(yàn)室配備有日立高新技術(shù)公司TM4000II型掃描電鏡及能譜儀。

承接服務(wù)

提供斷口分析所需儀器,可接受對(duì)樣品所含元素成分進(jìn)行分析。



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